Patenty - oferta nr. 45/11

Platforma do pomiarów SERS oraz sposób jej wykonania

  • Opis:

    Przedmiotem wynalazku jest platforma do pomiarów SERS, obejmująca podłoże o powierzchni hydrofilowej, nanodruty i mikrostruktury metaliczne, charakteryzująca się tym, że na podłożu o powierzchni hydrofilowej znajdują się nanondruty, pokryte mikrogrudkami złota o silnie rozwiniętej powierzchni.
    Wynalazek obejmuje także sposób wykonania platformy do pomiarów SERS, obejmujący kroki:
    a) nakroplenia mieszaniny nanocząstek oraz związku ciekłokrystalicznego na powierzchnię wody,
    b) przeniesienia tak uzyskanej warstwy na powierzchnię podłoża o powierzchni hydrofilowej z wykorzystaniem techniki Langmuira- Blodgett
    c) wzrostu nanodrutów metodą CVD (ang. Chemical Vapor Deposition) na tak uzyskanym podłożu o powierzchni hydrofilowej pokrytym nanocząstkami,
    d) pokrycia tak uzyskanego podłoża o powierzchni hydrofilowej z nanodrutami mikrogrudkami złota o silnie rozwiniętej powierzchni, poprzez zanurzenie go w odpowiednim roztworze

  • Twórcy:
    Jan Paczesny, Krzysztof Sozański, Andrzej Żywociński, Witold Adamkiewicz, Igor Dzięcielewski, Katarzyna Winkler, Agnieszka Kamińska, Robert Hołyst
  • Zalety:
    • Wysoka stabilność platform SERS (odporność na pozostawienie w roztworze analitu przez 12 dni, przechowywanie na powietrzu w temp. pokojowej przez 6 miesięcy, odporność mechaniczna)
    • Wysokie współczynniki wzmocnienia SERS (do 7,6∙106);
    • Wysoka powtarzalność uzyskiwanych wyników pomiarów SERS
    • Innowacyjny, trójetapowy proces wytwarzania pokrycia powierzchni, oparty o samoagregację nanostrukur na powierzchni
  • Słowa kluczowe:
    SERS, powierzchniowo wzmocniona spektroskopia Ramana, podłoże, nanostruktura, samoagregacja
  • Dziedzina:
  • Zastosowanie:

    Jako wysoce efektywne i stabilne podłoże w technice powierzchniowo wzmocnionej spektroskopii Ramana (SERS) – potencjalne zastosowanie w procedurach analitycznych i badawczych opartych o technikę SERS

  • Stan zaawansowania:
    Etap prototypu
  • Prawa własności intelektualnej:
    Patent w Polsce
  • Link do publikacji:

Załączniki

Powrót do listy patentów