Laboratorium Analizy Powierzchni

  • Kierownik: dr hab. Inż. Marcin Pisarek, prof. Instytutu
  • Nazwa: Laboratorium Analizy Powierzchni

Absolwent Politechniki Warszawskiej Wydziału Inżynierii Materiałowej. Pracownik IChF PAN od roku 2003. Obecnie kierownik Laboratorium Analizy Powierzchni w IChF PAN, zatrudniony na stanowisku profesora. Obszar zainteresowań naukowych: fizykochemia powierzchni materiałów (nauka o powierzchni materiałów), nanomateriały. Autor i współautor 122 prac naukowych, indeks H = 22. 

Członkowie

  • dr Olga Chernyayeva 
  • prof. dr hab. Aleksander Jabłoński 
  • dr inż. Andrzej Kosiński 
  • dr inż. Mirosław Krawczyk 
  • dr hab. Wojciech Lisowski 
  • dr inż. Kostiantyn Nikiforow 
  • dr inż. Janusz Sobczak 
  • mgr. Anna Gamdzyk

Kontakt

mpisarek@ichf.edu.pl, 22 343 3325

wlisowski@ichf.edu.pl, 22 343 3436

mkrawczyk@ichf.edu.pl, 22 343 3403

Badania

Laboratorium Analizy Powierzchni wyposażone jest w aparaturę naukową przeznaczoną do badania procesów fizykochemicznych zachodzących w obszarze kilku, kilkunastu monowarstw atomowych przy powierzchni ciał stałych.  Specjalizuje się w określeniu jakościowego i ilościowego składu chemicznego, jak również topografii i struktury powierzchni materiałów (ciał stałych).  Do tego celu wykorzystywane są następujące metody badawcze: spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania rentgenowskiego (XPS - ESCA), spektroskopia elektronów Augera (AES), spektroskopia piku elastycznego (EPES), mikroskopia sił atomowych (AFM), skaningowa mikroskopia tunelowa (STM) oraz dyfrakcja niskoenergetycznych, tzw. polwolnych elektronów (LEED).

Aparatura

  • PHI 5000 VersaProbe Scanning ESCA Microprobe (ULVAC-PHI, Japan/USA)
  • Komora preparatywna UHV wyposażona w reaktor wysokociśnieniowy, dwie naparowywarki (efuzyjną i elektronową) kalibrowane wagą kwarcową, spektrometr masowy QMS (Stanford Research), źródło plazmowe (SPECS) a także działo jonowe. Ponadto komora wyposażona jest w spektrometr  AES-LEED (OCI Microengineering).
  • Mikroskop UHV – AFM/STM (RHK Technology)
  • Skaningowy Mikroanalizator Elektronów Augera MICROLAB 350 (Thermo Electron) – mikrosonda Auger
  • Spektrometr ESCALAB-210 (VG Scientific)
  • Spektrometr XPS/AES (VG Microtech)

Cennik

  • Koszt analizy jednej próbki metodą spektroskopii XPS - 900 zł brutto
  • Koszt analizy jednej próbki metodą spektroskopii AES – 800 zł brutto
  • Koszt obrazowania powierzchni jednej próbki metodą AFM/STM – 800 zł brutto
  • Koszt analizy profilowej AES/XPS składu chemicznego jednej próbki – 1500 zł brutto
  • Preparatyka próbek w warunkach UHV -  koszt jednej próbki 800 zł brutto